高純固體材料直接分析的理想工具
采用具有超靈敏度和準確度的Thermo ScientificTM ELEMENTTM GD PLUS GD-MS,確保高純材料符合要求。GD-MS 是直接分析金屬、半導體和陶瓷粉末(如 Al2O3 或 SiC)的理想工具。深度曲線分析適用于納米級至 100mm 級厚度的應用且具有出色的半定量功能。
了解如何借助 Element GD PLUS GD 為固體中高級高純度材料的直接分析定義新的標準。GD-MS 以最少的校準和樣品制備實現(xiàn)高樣品通量和超低檢出限,使得整體金屬、陶瓷粉末和深度表征成為GD-MS的主要應用領(lǐng)域。非導體粉末的可采用二次電極進行分析,并具備相同水平的靈敏度和數(shù)據(jù)質(zhì)量。以上應用使得 GD-MS 成為痕量金屬分析的可靠標準方法。